工業(yè)CT是在射線檢測的基礎上發(fā)展起來的,其基本原理是當經(jīng)過準直且能量I0的射線束穿過被檢物時,根據(jù)各個透射方向上各體積元的衰減系數(shù)從不同,探測器接收到的透射能量I也不同。按照一定的圖像重建算法,即可獲得被檢工件截面一薄層無影像重疊的斷層掃描圖像(圖1),重復上述過程又可獲得一個新的斷層圖像,當測得足夠多的二維斷層圖像就可重建出三維圖像。當單能射線束穿過非均勻物質(zhì)后,其衰減遵從比爾定律:
即
式中
、
為已知量,未知量為μ。一幅M×N個像素組成的圖像,必須有M×N個獨立的方程才能解出衰減系數(shù)矩陣內(nèi)每一點的μ值。當射線從各個方向透射被檢物體,通過掃描探測器可得到MxN個射線計數(shù)和值,按照一定的圖像重建算法,即可重建出MXN個μ值組成的二維CT灰度圖像。